欢迎来到紫外可见分光光度计|分光光度计供应商-让奇(上海)仪器科技有限公司网站
你的位置:网站首页 > 新闻资讯 > 技术文章 >

重要技术指标的测试方法

来源:http://www.run-qee.com/   作者:紫外可见分光光度计    更新日期:2016-10-12 12:48:02    点击:235

重要技术指标的测试方法

 

 

当完成仪器的安装调试等工作后,即可进行仪器性能指标的测试,对仪器进行验收工作。因目前尚未有相关的国家标准文件(已存在的《激光喇曼光谱分析方法通则》JY/T 002-1996已不适用于目前大多数的拉曼谱仪),所以,一般按照仪器供应商提供的验收和检定方法执行。几个重要的技术指标,包括仪器的灵敏度、光谱分辨率和空间分辨率等,测试方法介绍如下(以Renishaw公司的产品为例)。
1 仪器灵敏度
单晶硅三阶峰(约在1440cm-1)的信噪比好于10:1。检测条件为:样品上的激光功率一般为<8mW,波长514. 5nm,狭缝宽度(或针孔直径)50μm,曝光时间60s,扫描叠加次数5次,binning≤2,光栅为每毫米1800刻线。显微镜头为50 X或100X。
具体操作步骤:
使用50 X(或100X)镜头聚焦到清洁的单晶硅表面,光谱仪入射狭缝设定到50μm,使用1800线/mm光栅,采用连续扫描方式,设定测试范围1100-500cm-1,积分时间为60s,累计次数5次,binning为1。读取1440cm-1信号高度和基线噪声值,计算二者比值为信噪比。
2 光谱分辨率
使用氖灯,光谱仪入射狭缝20μm,每毫米1800线光栅,测试17086Abs.cm-1绝对波数)原子发光线,该线半高全宽小于1cm-1。
具体操作步骤:
使用任意倍数镜头聚焦到氖灯发光源位置,光谱仪入射狭缝设定到20μm,使用800线/mm光栅,采集17086ABS.cm-1发光信号。经计算机谱线拟合得到半高全宽。
3 光谱重复性
使用表面抛光的单晶硅作样品,扫描范围100~4000cm-1,重复不少于30次。观测硅拉曼峰(520cm-1),520cm-1峰中心位置重复性好于±0.2cm-1。
具体操作步骤:
使用50X(或100X)镜头聚焦到清洁的单晶硅表面,设定时间序列采谱方式30次自动采集520cm-1峰信号。拟合520cm-1峰信号并保存拟合参数。使用批数据(mapping数据矩阵处理方式)拟合采集520cm-1峰信号实测数据精确位置,绘制峰位变化曲线,峰位波动范围应小于±0.2cm-1。

 

 

上海让奇仪器科技有限公司是专供紫外可见分光光度计紫外分光光度计分光光度计等实验室分析仪器的研发、设计、生产及销售的厂家和经销商。产品有G9系列双光束扫描型紫外可见分光光度计D8系列准双光束扫描型紫外可见分光光度计D7比例监测双光束紫外可见分光光度计T6系列紫外可见分光光度计K5系列可见分光光度计等G、D、T、K四大系列。