怎样避免被测试的样品被激光烧毁？

当你进行样品测试时，激光照射在样品表面的能量是非常大之的，尤其在采用NIR或UV激光激发时。尤其是一些样品在光照下对热或光是十分敏感的，这会致测量信号包含样品烧毁后的特征，而不是样品本征的信号（例如，非晶碳膜在1500cm-1波数附近的本征峰在强光激发时会显示出石墨化的碳峰）。通常遇到这样的问题时，可在样品测试前后通过显微镜白光像观察样品表面是否发生明显变化，因此需选择正确的激光功率来进行测试。
为避免样品表面烧毁，在开始测试时应选用较低的激发功率，尤其用NIR或UV激光激发时。在保证样品不被烧毁的前提下可提寄激发功率以得到最强的信。当激光功率衰减到1%仍无法避免样声品烧毁时，可考虑转换低倍物镜以降低照射在样品表面的功率密度。另外还可采用欠焦照射模式或线聚焦照射模式。如果是由于高功率二极管激光器引起的，可考虑转换成低功率可见激发系统。

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