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原子发射光谱谱线强度及其影响因素

来源:http://www.run-qee.com/   作者:紫外可见分光光度计    更新日期:2016-10-01 08:40:53    点击:278

原子发射光谱谱线强度及其影响因素

 

 

谱线强度是单位时间内从光源辐射出某波长光能的多少,即某波长的光辐射功率的大。如果以照像谱片而言,谱线强度指在单位时间内,在相应的位置上感光乳剂共吸收了多少某波长的光能。
谱线的强度与激发电位、温度、处于基态的粒子数、跃迁概率、统计权重有关。
1.激发电位与电离电位
谱线强度与原子(或离子)的激发电位是负指数关系,当N0、T一定时,激发电位越低,越易激发,Ni越多,谱线强度越大。实验证明,绝大多数激发电位和电离电位较低的谱线是比较强的,共振线激发电位最低,所以其强度往往最大。每一元素的主共振线的激发电位最小,强度最强;每条谱线都对应一个激发电位,反映谱线出现所需的能量。
2.跃迁几率
跃迁几率是指两能级间的跃迁在所有可能发生的跃迁中的概率,可通过实验数据计算得到,一般人的数值为10^6-10^9s^-1。自发发射跃迁几率与激发态原子平均寿命成反比,与谱线强度成正比。
3.统计权重
统计权重又称简并度,指能级在外加磁场的作用下,可分裂为2J+1个能级,谱线强度与统计权重成正比。当由两个不同J值的高能级向低能级跃迁时,产生的谱线强度也是不同的。
4.激发温度
温度升高,谱线强度(I)增大。但温度升高,体系中被电离的原子数数目也增多,而中性原子数则相应减少,致使原子线强度减弱。所以温度不仅影响原子的激发过程,还影响原子的电离避程。在较低温度时,随着温度的升高,谱线强度增加。但超过某—温度后,随着电离的增加,原子线:的强度逐渐降低,离线的强度不继续增强。温度再升高,一级离子线的强度也下降。在实验中,应选择适当的激发温度。
5.基态原子数
谱线强度与基态原子密度N0成正比,而在一定条件下No与试样中元素含量c成正比。

 

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